成分分析

HQG的科学家已经确定了在涂料、塑料、食品、消费品、化学品、药品、医疗器械、半导体、消费品、添加剂、粘合剂等中（或表面）发现的多种材料。我们的实验室已经确定了以下材料：

表面上的未知残留物

未知粒子

未知的有机和无机材料

意外的异物

未知的添加剂或表面活性剂

一旦我们确定了材料的化学性质，通过进一步的材料表征更好地了解成分可能变得很重要。有了这些信息，我们能够帮助我们的客户：

确定已识别材料的潜在来源

比较两种不同材料的化学成分

确认可疑材料的身份

从产品的潜在竞争对手或新供应商处识别材料

成分分析的选择技术取决于许多因素：

对样本有什么了解？

什么需要量化（主要元素、微量元素、化学成分或分子/有机成分）？

这是表面分析、体积分析还是层分析？

可以使用破坏性测试方法吗？

样本是否独特？

为了了解产品的配方，HQG的逆向工程（变形）服务帮助客户了解其产品的化学成分。了解有关变形的更多信息。

表面分析

元素和化学表面成分最好使用具有浅信息深度 (<100 Å) 的定量技术测量，例如俄歇电子能谱法（通常仅导电材料）或X 射线光电子能谱法（所有材料）。

批量分析

体积成分最好使用具有大/深信息深度的技术来确定，这些技术忽略了表面/表面的潜在成分变化。这些方法通常无法获得特定于深度的信息。X 射线荧光(XRF) 和电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES) 是可以量化主要和次要元素成分的最相关技术。傅里叶变换红外光谱(FTIR) 和拉曼光谱非常适合识别塑料、聚合物和其他有机材料。

薄层分析

分析薄层和薄膜的技术取决于所需的信息和样品特性。对于薄膜中已知主要元素的定量，卢瑟福背散射光谱法(RBS) 是首选技术。如果不知道感兴趣的薄膜的主要成分，X 射线光电子能谱(XPS) 是一个不错的选择。如果分析区域的大小受到限制（并且也是导电的），则可以使用俄歇电子能谱(AES)。二次离子质谱(SIMS) 在半导体薄膜的高精度成分测量方面具有一系列应用。傅里叶变换红外光谱(FTIR) 和拉曼光谱非常适合从有机薄膜中获取化学或分子信息。

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